Surface characterization of ordered and disordered SiO2 [SiO tief 2] / Wolfram Steurer

Saved in:
Bibliographic Details
VerfasserIn:
Place / Publishing House:2008
Year of Publication:2008
Language:English
Subjects:
Classification:33.05 - Experimentalphysik
33.68 - Oberflächen. Dünne Schichten. Grenzflächen
Physical Description:XI, 147 S.; graph. Darst.
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
LEADER 01177nam#a2200397#c#4500
001 990001812270504498
005 20230404172802.0
007 tu
008 090318|2008####|||######m####|||#0#eng#c
009 AC07538385
015 |a OeBB  |2 oeb 
035 |a (AT-OBV)AC07538385 
035 |a AC07538385 
035 |a (Aleph)007314769ACC01 
035 |a (DE-599)OBVAC07538385 
035 |a (EXLNZ-43ACC_NETWORK)990073147690203331 
040 |a TUG  |b ger  |d ONB  |e rakwb 
041 |a eng 
044 |c XA-AT 
084 |a 33.05  |2 bkl 
084 |a 33.68  |2 bkl 
090 |h g 
100 1 |a Steurer, Wolfram  |4 aut 
245 1 0 |a Surface characterization of ordered and disordered SiO2 [SiO tief 2]  |c Wolfram Steurer 
264 1 |c 2008 
300 |a XI, 147 S.  |b graph. Darst. 
502 |a Graz, Techn. Univ., Diss., 2008 
689 0 0 |a Quarz  |g alpha-  |D s  |0 (DE-588)4142011-1 
689 0 1 |a Oberflächeneigenschaft  |D s  |0 (DE-588)4219221-3 
689 0 2 |a Heliumstreuung  |D s  |0 (DE-588)4384567-8 
689 0 |5 AT-OBV  |5 ONBREB 
689 1 0 |a Glas  |D s  |0 (DE-588)4021142-3 
689 1 1 |a Oberflächeneigenschaft  |D s  |0 (DE-588)4219221-3 
689 1 2 |a Heliumstreuung  |D s  |0 (DE-588)4384567-8 
689 1 |5 AT-OBV  |5 ONBREB 
970 1 |c 33 
970 2 |d HS-DISS 
ADM |b 2024-05-13 17:34:22 Europe/Vienna  |d 20  |f System  |c marc21  |a 2018-12-24 07:52:57 Europe/Vienna  |g false 
HOL 8 |b YWOAW  |h  37381-C.Stip.   |c MAG1-3  |8 2216957390004498 
852 8 |b YWOAW  |c MAG1-3  |h  37381-C.Stip.   |8 2216957390004498 
ITM |9 2216957390004498  |e 1  |m BOOK  |b +YW14505700  |i 37381-C.Stip.  |2 MAG1-3  |o 20090416  |8 2316957380004498  |f 02  |p 2009-04-16 02:00:00 Europe/Vienna  |h 37381-C.Stip.  |1 YWOAW  |q 2022-06-09 11:26:23 Europe/Vienna