Anwendung der Linienverschiebung bei Mikrosondenuntersuchungen : = The value of the shifting of Fe-K a -emission-lines for microprobe investigations

Anwendung der Linienverschiebung bei Mikrosondenuntersuchungen : = The value of the shifting of Fe-K a -emission-lines for microprobe investigations / von O. Schaaber u. H. Vetters

保存先:
書誌詳細
VerfasserIn:
Schaaber, Otto
Vetters, Hermann 1915-1993
Place / Publishing House:[Münster] : [Remy], 1971
出版年:1971
言語:German
物理的記述:S. 351 - 354; graph. Darst.
注記:
  • Zsfassung in engl. Sprache
  • Aus: Beiträge zur elektronenmikroskopischen Direktabbildung von Oberflächen ; 4.1971,2
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