Etwa hundert internationale Experten haben sich im Februar in Wien zusammen gefunden, um den aktuellen Stand des japanischen Belle II-Experiments zu besprechen. Unter den Teilnehmern waren etliche KollegInnen vom Forschungslabor KEK (Japan), wo das Belle II-Experiment durchgeführt wird. Veranstaltet wurden die Tagungen, das Common Belle II SVD-PXD Meeting und das Joint Belle II & SuperB Background Meeting, vom Institut für Hochenergiephysik (HEPHY) der Österreichischen Akademie der Wissenschaften.
Thema der ersten Tagung war das Herz des Experiments, der Pixel-Detektor (PXD) und der Silizium-Vertex-Detektor (SVD) - für letzteren ist Gastgeber HEPHY hauptverantwortlich.
"Es freut uns, dass wir so viele hochkarätige WissenschaftlerInnen aus aller Welt bei uns zu Gast hatten. Zahlreiche mündliche Danksagungen und erste Ergebnisse einer anonymen Umfrage unter den TeilnehmerInnen zeigen, dass diese mit dem Austragungsort höchst zufrieden waren.", so DI Dr. Markus Friedl vom HEPHY und Leiter des Organisationskomitees beider Tagungen.
Bei Pixel- und Silizium-Vertex-Detektor handelt es sich um die beiden innersten Detektoren im Belle II-Experiment, die für die Bestimmung des Vertex (Ursprungs) von neu entstehenden Teilchen, insbesondere B-Mesonen und deren Zerfallsprodukte, verantwortlich sind. Das Ziel des Belle II-Experiments ist die Untersuchung eines minimalen Ungleichgewichts zwischen Materie und Antimaterie, das schließlich dazu geführt hat, dass das heutige Universum aus Materie besteht und die Antimaterie verschwunden ist. Belle II erforscht diese Asymmetrie anhand der B-Mesonen, und daher sind die beiden Detektoren nicht nur räumlich gesehen, sondern auch funktional die zentralen Elemente des Experiments.
Bei der anschließenden "Background"-Tagung wurden Konzepte zur Verringerung des Strahlungs-Untergrundes von Experten des Belle II-Experiments gemeinsam mit Kollegen vom italienischen Schwesterprojekt SuperB diskutiert. In beiden Experimenten werden Teilchenstrahlen im Nanometer-Bereich fokussiert, um hohe Kollisionsraten und damit Präzisionsmessungen mit hoher Statistik zu ermöglichen.
15.02.2012