TY - JOUR AU - Li, M. AU - Tan, J. AU - Qin, X. M. AU - Lu, D. H. AU - Feng, Z. X. AU - Li, C. J. AU - Ketov, S. V. AU - Calin, M. AU - Eckert, J. DA - 2021/02/28/ DO - 10.1063/5.0039754 ET - 2022/12/14/ IS - 8 JF - J. Appl. Phys. PY - 2021 SE - 2021/02/04/ SP - ARTN 085302 TI - Correlation between internal states and creep resistance in metallic glass thin films VL - 129 ER -